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Vishay发布通过AEC-Q200认证的25W厚膜功率电阻
　　摘要：Vishay宣布，发布新的通过AEC-Q200认证的25W厚膜功率电阻---DTO25。　　　　DTO25采用小尺寸、表面贴装TO-252型(DPAK)封装。对于汽车、工业和国防应用，VishaySferniceDTO25比前一代方案节省更多空间，在PCB上的耗散功率则达到3W以上，阻值范围较宽。　　　　DTO25是无感器件，阻值从0.016&O到700k&O，其外形尺寸为8.2mmx7.3mm的面积和2.8mm的厚度，在DPAK封装内能承受比竞争元器件多10倍的能量，即承受10-5秒脉冲的最高5kW功率和0.1秒脉冲的10J能量。　　　　今天发布的器件具有良好的长期可靠性，可用于燃电混合和纯电动汽车、导弹控制板及UPS的电源、负载电阻、缓冲器、功率转换，以及电池管理系统中的预充电和放电。在这些应用里，电阻使设计者用一个器件就能完成多个片式电阻的功能，从而节省成本，简化布局设计，减小最终产品的尺寸。　　　　在25W和+25℃条件下，DTO25电阻的结到外壳的热阻为5℃/W。电阻的标准温度系数为150ppm/℃，标准公差为&1%～&10%。规定工作温度为-55℃～+150℃。器件符合RoHS，潮湿敏感度等级为1，可承受+270℃焊接温度达10秒钟。　　　　DTO25现可提供样品，并已实现量产，大宗订货的供货周期为八周到十周。
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　　6月13日，以&人机融合，让机器人更智能&为主题的第三AEC-Q200被動(無源)組件應力測試認證規範
■線上學習＞
作者：江志宏
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近年來，隨著車載應用設備多功能化的進展，而且在混合動力車以及電動汽車的普及進程中，以電源監視功能為首的新用途也在不斷地擴大，車用零件小型化以及高溫環境條件下(-40～+125℃、-55℃～+175℃)的高可靠性要求日益高漲，一台汽車是由許許多多的零件組成，這些零件雖然有大小，但是全部都與汽車駕駛的生命安全息息相關，所以每一個零件都要被要求能達到最高品質與可靠度，甚至要求做到零缺陷的理想境界，所以在汽車產業中，汽車零件的品質控管的重要性往往凌駕於零件的功能性之上，這個與一般民生用消費電子產品的需求是不一樣的，也就是說對於汽車零件而言，產品的最大通動力往往不是[最新技術]，而是[品質安全]。為了達到對品質要求的提升，就得靠嚴格管控程序來把關，目前汽車產業中針對於零件資格及品質系統標準的就是AEC(汽車電子委員會)，針對於主動零件所設計出的標準為
[AEC-Q100]，針對於被動元件設計為[AEC-Q200]，其規範了被動零件所必須達成的產品品質與可靠度。
AEC-Q100車用IC產品驗證流程圖：
應用於汽車的被動元件分類：
汽車等級電子元器件(符合AEC-Q200)、商用電子元器件、動力傳動組件、安全控制組件、舒適組件、通訊組件、音響組件
符合AEC-Q200標準的零件
摘要整理：
石英振盪器：應用範圍[胎壓監測系統(TPMS)、導航、防鎖死剎車系統(ABS)、安全氣囊和接近感測器
車載多媒體，車用娛樂系統、備份攝影鏡頭]
車用厚膜晶片電阻：應用範圍[汽車冷暖系統、空氣調節、資訊娛樂系統、自動導航、照明、車門及車窗遙控裝置]
車用夾層金屬氧化物壓敏電阻：應用範圍[電機組件的浪湧保護、組件的浪湧吸收、半導體過壓保護]
耐低高溫表面貼裝固態模壓片式鉭電容器：應用範圍[燃油質量傳感器、變速器、節流閥、傳動控制系統]
電阻：SMD電阻、薄膜電阻、熱敏電阻、壓敏電阻、車用抗硫化電阻、車用精密薄膜晶片電阻陣列、可變電阻
電容：SMD電容、陶瓷電容、鋁電解電容、薄膜電容、可變電容
電感：加固電感、電感器
其他：薄膜氧化鋁陶瓷散熱基板、超音波元件、過電流保護、過溫保護、陶瓷共鳴器、車用半導體陶瓷電子保護元件、網路晶片、變壓器、網路組件、干擾抑制器、干擾過濾器、自恢復保險絲
無源器件應力測試等級與最低溫度範圍及典型應用案例：
無源器件類型
典型的應用案例
扁平蕊心陶瓷電阻、X8R陶瓷電容
網路電容、電阻器、電感、變壓器、熱敏電阻、共鳴器、石英震盪器、可調電阻、陶瓷電容、鉭電容
大部分引擎
鋁電解電容器
駕駛艙高溫點
薄型電容、鐵氧體、網路低通濾波器、網路電阻、可調電容
駕駛艙大部分區域
備註：在更高等級環境應用的認證：溫度等級必須設有產品壽命最差情況和應用設計，即每個試驗中至少要有一個批次進行針對更高工作溫度等級環境應用進行驗證。
認證測試數量要求：
高溫儲存、高溫工作壽命、溫度循環、濕度抵抗、偏高濕度：77個
熱衝擊：30個
認證測試數量注意事項：此為破壞性測試，元件不可重新用於其他認證測試或是生產
AEC-Q200專有名詞整理：
解決問題方法
汽車電子設備協會
Automotive Electronic Council
由車廠[克萊斯勒(Chrysler)、福特(Ford)、通用汽車(GM)]發起並創立於1994年，目前會員遍及全球各大汽車廠、汽車電子與半導體廠商。
零件平均測試指導原則
統計式良品率分析的指導原則
晶片產品的電性表現特性化的指導原則
無鉛測試要求
基於積體電路應力測試認證的失效機理
規範了零件供應商所必須達成的產品品質與可靠度，試驗條件多仍以JEDEC或MIL-STD為主，外加上其他獨立建置的測試手法。
AEC-Q100-001
邦線切應力測試
AEC-Q100-002
人體模式靜電放電測試
AEC-Q100-003
機械模式靜電放電測試
AEC-Q100-004
積體電路閂鎖效應測試
AEC-Q100-005
可寫可擦除的永久性記憶的耐久性、資料保持及工作壽命的測試
AEC-Q100-006
熱電效應引起的寄生閘極漏電流測試
AEC-Q100-007
故障仿真和測試等級
AEC-Q100-008
早期壽命失效率（ELFR）
AEC-Q100-009
電分配評估
AEC-Q100-010
錫球剪切測試
AEC-Q100-011
帶電器件模式的靜電放電測試
AEC-Q100-012
12V系統靈敏功率設備的短路可靠性描述
汽車級半導體分立器件應力測試認證
無源器件應力測試標準
AEC-Q200-001
AEC-Q200-002
人體模式靜電放電測試
AEC-Q200-003
橫樑負載、斷裂強度
AEC-Q200-004
自恢復保險絲測量程式
AEC-Q200-005
板彎曲度測試
AEC-Q200-006
表面貼裝後的剪切強度測試
AEC-Q200-007
汽車等級認證
Automotive Grade Qualification
百萬缺陷數
defect per million
半導體元件的缺陷率
破壞性的物理分析
陶瓷電介質電容器
電性晶圓測試
Eletrical Wafer Sort
高可靠性認證流程
High Reliability Certified Flow
靜電放電人體模式
車輛機能安全
ISO-7637-1
道路車輛電子干擾
JEDEC-STD-002
可焊性規格
JEDEC-STD-121
測量錫和錫合金表面塗層的錫鬚生長測試方法
JEDEC-STD-201
錫和錫合金表面塗層的錫鬚環境驗收要求
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台北-TEL:(02) | 新竹-TEL:
(03) | 高雄-TEL: (07)359-4445AEC-Q200試驗條件
■在线学习＞汽车电子专区&AEC-Q200试验条件
AEC-Q200试验条件
文：江志宏
说明：AEC-Q200的环境试验条件，主要是依据MIL-STD-202与JEDEC22A-104规范来制定的，不同零件的试验温度除了不一样之外，其施加电源(电压、电流、负载)要求也会有所不同，高温储存属于不施加偏压与负载，但是在高温工作寿命就需要，温度循环与温度冲击，其试验目的与手法不一样，在温度循环中高低温变化需控制温变率，温冲击则不用，偏高湿度就是俗称的高温高湿试验，而湿度抵抗就是湿冷冻试验
试验条件注意事项：<span lang="EN-US" style="color: #00h试验过程需在<span lang="EN-US" style="color: #0h、<span lang="EN-US" style="color: #0h进行间隔量测
高温储存(MIL-STD-202-108)：[适用设备：]
薄膜电容、网络低通滤波器、网络电阻、热敏电阻、可变电容、可变电阻、陶瓷共鸣器、EMI干扰抑制器、EMI干扰过滤器：85℃/1000h
电感、变压器、电阻：125℃/1000h
变阻器：150℃/1000h
钽电容、陶瓷电容、铝电解电容：最大额定温度/1000h
高温工作寿命(MIL-STD-202-108)：[适用设备：]
网络低通滤波器、网络电阻：85℃/1000h
EMI干扰抑制器、EMI干扰过滤器：85℃/1000h/施加额定IL
钽电容、陶瓷电容：最大额定温度/1000h/
(2/3)负载/额定电压
铝电解电容、电感、变压器：105℃/1000h
薄膜电容：1000h/(85℃/125%额定电压、105℃&125℃/100%额定电压)
自恢复保险丝：125℃/1000h
电阻、热敏电阻、可变电容：125℃/1000h/额定电压
可变电阻：125℃/1000h/额定功率
变阻器：125℃/1000h/额定电压85％+ma电流
陶瓷共鸣器：85℃/1000h/额定VDD+1MΩ，并联逆变器，在每个晶体脚和地之间有2X的晶体CL电容
石英震荡器：125℃/1000h/额定VDD+1MΩ，并联逆变器，在每个晶体脚和地之间有2X的晶体CL电容
温度循环(JEDEC22A-104)：[适用设备：、]
薄膜电容、可变电容、可变电阻、陶瓷共鸣器、EMI干扰抑制器、EMI干扰过滤器：-55℃(30min)←→85℃(30min)/RAMP(15℃/min)/1000cycles
钽电容、陶瓷电容、电阻、热敏电阻：
-55℃(30min)←→125℃(30min)
/RAMP(15℃/min)/1000cycles
铝电解电容：-40℃(30min)←→105℃(30min)
/RAMP(15℃/min)/1000cycles
电感、变压器、变阻器、石英震荡器、自恢复保险丝：-40℃(30min)←→125℃(30min)/RAMP(15℃/min)/1000cycles
网络低通滤波器、网络电阻：-55℃(30min)←→125℃(30min)
/RAMP(15℃/min)/1000cycles
温度冲击(MIL-STD-202-107)：[适用设备：、]
自恢复保险丝：-40℃(15min)←→125℃(15min)/300cycles
偏高湿度(MIL-STD-202-103)：[适用设备：]
钽电容、陶瓷电容：85℃/85%R.H./1000h/电压1.3～1.5V
电感&变压器：85℃/85%R.H./1000h/不通电
铝电解电容：85℃/85%R.H./1000h/额定电压
EMI干扰抑制器、EMI干扰过滤器：85℃/85%R.H./1000h/额定电压＆电流
电阻、热敏电阻：85℃/85%R.H./1000h/工作电源10%
自恢复保险丝：85℃/85%R.H./1000h/额定电流10%
可变电容、可变电阻：85℃/85%R.H./1000h/额定功率10%
网络低通滤波器&网络电阻：85℃/85%R.H./1000h/电压[网络电容(额定电压)、网络电阻(10%额定功率)]
变阻器：85℃/85%R.H./1000h/额定电压85％+ma电流
石英震荡器、陶瓷共鸣器：85℃/85%R.H./1000h/额定VDD+1MΩ，并联逆变器，在每个晶体脚和地之间有2X的晶体CL电容
薄膜电容：40℃/93%R.H./1000h/额定电压
湿度抵抗(MIL-STD-202-106)：[适用设备：]
薄膜电容：(25℃←→65℃/90%R.H.*2cycle)/18h→-10℃/3h，每一cycle共24h，step7a&7b不通电
AEC-Q200专有名词整理：
解决问题方法
汽车电子设备协会
Automotive
Electronic
由车厂[克赖斯勒(Chrysler)、福特(Ford)、通用汽车(GM)]发起并创立于1994年，目前会员遍及全球各大汽车厂、汽车电子与半导体厂商。
零件平均测试指导原则
统计式良品率分析的指导原则
芯片产品的电性表现特性化的指导原则
无铅测试要求
基于集成电路应力测试认证的失效机理
规范了零件供货商所必须达成的产品质量与可靠度，试验条件多仍以JEDEC或MIL-STD为主，外加上其它独立建置的测试手法。
AEC-Q100-001
邦线切应力测试
AEC-Q100-002
人体模式静电放电测试
AEC-Q100-003
机械模式静电放电测试
AEC-Q100-004
集成电路闩锁效应测试
AEC-Q100-005
可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试
AEC-Q100-006
热电效应引起的寄生闸极漏电流测试
AEC-Q100-007
故障仿真和测试等级
AEC-Q100-008
早期寿命失效率（ELFR）
AEC-Q100-009
电分配评估
AEC-Q100-010
锡球剪切测试
AEC-Q100-011
带电器件模式的静电放电测试
AEC-Q100-012
12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述
汽车级半导体分立器件应力测试认证
无源器件应力测试标准
AEC-Q200-001
AEC-Q200-002
人体模式静电放电测试
AEC-Q200-003
横梁负载、断裂强度
AEC-Q200-004
自恢复保险丝测量程序
AEC-Q200-005
板弯曲度测试
AEC-Q200-006
表面贴装后的剪切强度测试
AEC-Q200-007
汽车等级认证
Automotive Grade
Qualification
百万缺陷数
defect per
半导体组件的缺陷率
破坏性的物理分析
陶瓷电介质电容器
电性晶圆测试
Eletrical Wafer
高可靠性认证流程
High Reliability
Certified Flow
静电放电人体模式
车辆机能安全
ISO-7637-1
道路车辆电子干扰
JEDEC-STD-002
可焊性规格
JEDEC-STD-121
测量锡和锡合金表面涂层的锡须生长测试方法
JEDEC-STD-201
锡和锡合金表面涂层的锡须环境验收要求
JEDEC22A-104
MIL-PRF-27
电感/变压器的测试方法
MIL-STD-202
国防部标准电子及电气组件测试方法
东京锡须会议
参数零件平均测试
Parametric Part
Average Testing
十亿分之一
Screening Method
统计性良率分析
Statistical
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自行车车灯(脚踏车车灯)可靠度试验
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